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在材料科學、化學和生命科學領域，許多關鍵的物理過程、化學反應和生物功能都與未成對電子密切相關。電子順磁共振波譜儀是一種能夠直接、專一地檢測和表征含有未成對電子的順磁性物質的分析技術。它是揭示自由基、過渡金屬離子、點缺陷等順磁中心結構與動態信息的工具。EPR技術的物理基礎是順磁性物質中的未成對電子在外部靜磁場作用下發生能級分裂（塞曼效應），并吸收特定頻率的微波能量發生能級躍遷。通過掃描磁場并檢測微波吸收信號，EPR波譜儀可以獲得豐富的結構信息和動態信息。這種對未成對電子的直接探...

在材料表征領域，確定物質的晶體結構是理解其物理化學性質的基礎。X射線衍射（XRD）技術是進行物相鑒定、晶體結構解析的“黃金標準”。而布魯克X射線衍射儀以其分辨率、穩定的性能和強大的軟件分析平臺，為材料、化學、地質、制藥等眾多學科的研究與質量控制提供了可靠的數據支撐。XRD技術基于布拉格定律，當X射線照射到晶體樣品時，會產生具有特定規律的衍射花樣。通過對衍射花樣的角度和強度進行測量，可以像“解碼”一樣獲得物質的晶體結構信息，包括：1、物相鑒定：通過與標準粉末衍射數據庫（如ICD...

理解原始界面的化學環境是電化學、材料科學和表面科學領域長期追求的目標。電極-電解質界面（SEI）被認為是鋰離子電池和鋰金屬電池中重要的固體界面。目前，我們對SEI化學狀態的理解主要基于室溫（RT）和超高真空（UHV）條件下的X射線光電子能譜（RT-XPS）。然而，在室溫與超高真空條件下，SEI會因反應與揮發發生明顯演化：（1）在室溫下，自發的分解和生長反應會改變SEI的組成，如LiF、Li?O和Li?N等物種的相對含量會隨時間增加而不斷變化；（2）在超高真空環境中，SEI組分...

Lexsyg釋光探測器|從紫外到X射線研究背景在醫療診斷、安檢成像等X射線檢測領域，高性能閃爍體材料是重要元件。傳統無機晶體雖性能優異，但存在成本高、加工難等問題。近期，巴西圣卡洛斯物理研究所聯合多國團隊，在《FluorophosphateglassesdopedwithEu3?和Dy3?》研究中取得突破，開發出新型氟磷酸鹽玻璃閃爍體，兼具高密度、長發光壽命與優異X射線響應特性，為低成本、可定制化輻射探測開辟新方向。重要發現Part.1材料設計創新團隊采用熔融淬火技術，成功制...

在材料表面分析領域，光電子能譜儀（XPS）憑借“表面靈敏、元素精準、化學態解析”的核心優勢，成為半導體、新能源、催化材料等行業的表面探針。它能實現從元素定性定量分析到化學價態識別的全維度檢測，而設備的性能，始終依賴于一系列核心技術參數的精準把控。這些參數不僅決定了分析結果的可靠性，更直接影響著科研與生產中的應用邊界。?能量分辨率是光電子能譜儀的核心生命線，直接決定化學態解析的精度。其定義為探測光電子能量的最小分辨能力，通常以C1s光電子峰的半高寬為衡量標準。主流商用設備的能量...

半導體器件的性能與可靠性，從根本上取決于其基底材料——半導體晶錠（以及由其切割而成的晶圓）的本征質量。其中，少數載流子壽命是衡量半導體材料質量的一個關鍵體參數，它直接影響著器件（如功率IGBT、光伏電池、探測器）的開關速度、能耗效率與穩定性。晶圓片晶錠壽命檢測儀正是專門用于非接觸、無損測量半導體材料中少數載流子壽命的精密儀器，它從材料源頭進行質量篩查，是保障半導體器件性能的“本源守護者”。該檢測儀的主流技術為微波光電導衰減法。其原理是：使用脈沖激光（或閃光）照射半導體樣品（晶...

應用分享|TOF-SIMS質量分析器（下）：TRIFT結構及特點在上一篇文章中，我們探討了TOF-SIMS高精度測量所面臨的挑戰，指出質量分析器需要具備精密的離子光學設計以應對這些挑戰。三重飛行時間聚焦質量分析器（TRIpleFocusingTimeofflight，簡稱TRIFT）作為ULVAC-PHI的TOF質量分析器，憑借其寬通能、高景深和較大二次離子接收角等獨特設計，在靜態SIMS分析中表現出y性能。TRIFT起初由CharlesEvans&Associates公司開...

Lexsyg釋光探測器|從紫外到X射線Lexsyg多譜段材料探測實錄之-鋱玻璃的「硬核」閃爍體基因研究背景在醫療影像、工業檢測等領域，高性能閃爍體材料是實現高精度輻射探測的重要部件。傳統單晶閃爍體雖效率高，但制備成本高昂且尺寸受限。近年來，玻璃閃爍體憑借其可塑性高、成本低等優勢成為研究熱點。巴西圣卡洛斯物理研究所團隊近期在《JournalofAlloysａndCompounds》發表重要成果，成功開發出新型鋱摻雜鎵鎢磷酸鹽玻璃（NaPGaW:Tb3?），兼具高密度與優異發光性...