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ADEPT-1010 專為淺層半導體注入和絕緣薄膜的自動分析而設計，是大 多數(shù)半導體開發(fā)和支持實驗室的常用工具。通過優(yōu)化的二次離子收集光學系統(tǒng) 和超高真空設計，提供了薄膜結構檢測中的摻雜組分和常見雜質(zhì)所需的靈敏度。

PHI nanoTOF IITM飛行時間質(zhì)譜儀是第五代SIMS儀器，該儀器具有*的飛行時間（TOF）分析儀，它擁有市場上TOF-SIMS儀器中大的角度和能量接收范圍，它使用了具有優(yōu)良離子傳輸能力的三級聚焦半球形靜電分析器，實現(xiàn)了高空間分辨率和質(zhì)量分辨率。PHI nanoTOF IITM還具有很高的成像能力，可以表征形貌復雜的樣品而沒有陰影效應。

Isoprime系列穩(wěn)定同位素質(zhì)譜儀定位于滿足世界上非常的科學家和技術人員，提供同位素質(zhì)譜應用方面*，*和切合實際的解決方案。IsoPrime在元素分析，氣相色譜和頂空氣體分析方面有著顯著優(yōu)勢，能在任何應用領域提供的性能表現(xiàn)。Isoprime同位素質(zhì)譜是地質(zhì)科學，環(huán)境科學，醫(yī)學和食品認證等領域?qū)＜业?。Isoprime的起源可追溯到七十年代初。歷經(jīng)八十年代及九十年代，