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Lexsyg多譜段材料探測實錄之- 柔性X射線傳感器材料

更新時間:2025-11-12點擊次數:154

Lexsyg釋光探測器 | 從紫外到X射線

研究背景 

在醫療診斷、安檢成像等X射線檢測領域,高性能閃爍體材料是重要元件。傳統無機晶體雖性能優異,但存在成本高、加工難等問題。近期,巴西圣卡洛斯物理研究所聯合多國團隊,在《Fluorophosphate glasses doped with Eu³?和Dy³?》研究中取得突破,開發出新型氟磷酸鹽玻璃閃爍體,兼具高密度、長發光壽命與優異X射線響應特性,為低成本、可定制化輻射探測開辟新方向。

重要發現

Part.1 材料設計創新

團隊采用熔融淬火技術,成功制備了35NaPO?-30Ba(PO?)?-25MgF?-YF?基玻璃體系,通過摻雜Eu³?(0.1-4.0 mol%)和Dy³?(0.25-1.0 mol%)實現高效發光。氟磷酸鹽基質結合了磷酸鹽的高稀土溶解性與氟化物的低聲子能量,明顯提升發光效率。

Part.2 性能優勢突出

1)高密度(3.65-3.66 g/cm³):超越商用硼酸鹽玻璃(~2.50 g/cm³),媲美NaI:Tl晶體(3.67 g/cm³),增強X射線吸收效率。

2)超長發光壽命:Eu³??D?態壽命達2.5 ms,Dy³??F?/?態壽命0.71 ms,優于同類材料。

3)零濃度猝滅:Eu³?摻雜至4.0 mol%仍保持線性發光增強(圖1),Dy³?在1.0 mol%內穩定性優異。

Lexsyg多譜段材料探測實錄之- 柔性X射線傳感器材料 

圖1. 不同激發功率下Eu³?摻雜玻璃的發射光譜

Part.3 X射線響應驗證

通過lexsyg research光譜儀(配備鎢靶X射線管與Newton CCD)的輻射發光(RL)測試,證實:

Eu³?玻璃:在611 nm(?D??F?)處呈現強RL峰,強度隨摻雜濃度線性增長(圖2),且有效抑制380 nm基質缺陷發光(缺陷峰降低30%)。

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圖2. Eu³?摻雜玻璃的X射線輻射發光(RL)光譜

Dy³?玻璃:雙峰發射(572 nm和478 nm)適配多種光電探測器,1.0 mol%樣品RL強度較0.25 mol%提升13%(圖3)。

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圖3. Dy³?摻雜玻璃的X射線輻射發光(RL)光譜

技術亮點

本研究關鍵數據依托lexsyg高靈敏度RL測試系統:
1)精確激發:40 kV/1 mA連續X射線源,模擬真實探測場景。
2)高信噪比檢測:-80℃冷卻CCD配合光纖光譜儀,捕獲微弱發光信號。
3)動態響應分析:實時監測發光強度與功率線性關系,驗證材料穩定性。

應用前景

該玻璃體系已展現作為柔性X射線傳感器、可穿戴輻射劑量計的潛力。團隊下一步將優化稀土配比,并探索與光纖耦合的集成器件開發。

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